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Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
8x-800000x Emission Scanning Electron Microscope Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

8x-800000x Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

  • Realçar

    8x microscópio eletrônico de varredura de emissão

    ,

    microscópio eletrônico de varredura de emissão de pistola schottky

  • Definição
    1.5nm@15KV (SE); 3nm@20KV (EBS)
  • Ampliação
    8x~800000x
  • Arma de elétron
    Pistola de elétrons de emissão Schottky
  • Tensão de aceleração
    0~30KV
  • Sistema do vácuo
    Ion Pump, bomba molecular da rotação do、 da bomba do turbocompressor
  • Fase do espécime
    Palco Motorizado Eucêntrico de Cinco Eixos
  • Corrente do feixe de elétrons
    10pA~0,3μA
  • Diâmetro máximo da amostra
    175mm
  • Lugar de origem
    China
  • Marca
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Certificação
    CE,
  • Número do modelo
    A63.7080
  • Quantidade de ordem mínima
    1 pc
  • Preço
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Detalhes da embalagem
    Embalagem da caixa, para o transporte da exportação
  • Tempo de entrega
    5 ~ 20 dias
  • Termos de pagamento
    T / T, West Union, Paypal
  • Habilidade da fonte
    mês de 5000 PCes

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  • 8x~800000x Com Detector SED+CCD, Palco Manual de Cinco Eixos ou Palco Motorizado
  • Aceleração E-Beam Com Fornecimento de Corrente de Feixe Estável Excelente Imagem Sob Baixa Tensão
  • Amostra de não condução pode ser observada diretamente, sem necessidade de pulverização em baixa tensão
  • Interface de operação fácil e amigável, tudo controlado pelo mouse no sistema Windows
  • Sala de amostra grande com palco motorizado eucêntrico de cinco eixos tamanho grande, diâmetro máximo da amostra 175mm
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A63.7080, A63.7081 Função principal do software
Comissionamento integrado de alta tensão Filamento automático ligado/desligado Regulação de mudança potencial
Ajuste de brilho Ajuste elétrico para central Brilho automático
Ajuste de contraste Ajuste da lente objetiva Auto-foco
Ajuste de ampliação Desmagnetização objetiva Eliminação automática do astigmatismo
Modo de varredura de área selecionada Ajuste de rotação elétrica Gerenciamento de parâmetros do microscópio
Modo de varredura de ponto Ajuste de deslocamento do feixe de elétrons Exibição em tempo real do tamanho do campo de digitalização
Modo de varredura de linha Ajuste de inclinação do feixe de elétrons Ajuste da lente da arma
Digitalização de superfície Ajuste de velocidade de digitalização Entrada multicanal
Monitoramento de energia de alta tensão Centralização do balanço Medição da régua
 
 
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SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
Resolução 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV(BSE)
1,5nm@30KV(SE)
3nm@30KV(BSE)
1,0nm@30KV(SE)
3,0nm@1KV(SE)
2,5nm@30KV(BSE)
Ampliação 8x~300000x Ampliação Verdadeira Negativa 8x~800000x Ampliação Verdadeira Negativa 6x~1000000x Ampliação Verdadeira Negativa
Canhão de elétrons Cartucho de filamento de tungstênio pré-centrado Arma de Emissão de Campo Schottky Arma de Emissão de Campo Schottky
Tensão Tensão de aceleração 0~30KV, Ajustável Contínuo, Etapa de Ajuste 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Olhada rápida Função de imagem de visualização rápida de uma tecla N / D N / D
Sistema de lentes Lente Cônica Eletromagnética de três níveis Lente Cônica Eletromagnética de vários níveis
Abertura 3 aberturas objetivas de molibdênio, ajustáveis ​​fora do sistema de vácuo, sem necessidade de desmontar a objetiva para alterar a abertura
Sistema de vácuo 1 Bomba Molecular Turbo
1 Bomba Mecânica
Vácuo da Sala de Amostra>2.6E-3Pa
Vácuo da Sala da Arma de Elétron>2.6E-3Pa
Controle de vácuo totalmente automático
Função de bloqueio a vácuo

Modelo opcional: A63.7069-LV
1 Bomba Molecular Turbo
2Bombas Mecânicas
Vácuo da Sala de Amostra>2.6E-3Pa
Vácuo da Sala da Arma de Elétron>2.6E-3Pa
Controle de vácuo totalmente automático
Função de bloqueio a vácuo

Baixo vácuoFaixa 10~270Pa Para Troca Rápida em 90 Segundos Para BSE(LV)
1 Conjunto de bomba de íons
1 Bomba Molecular Turbo
1 Bomba Mecânica
Vácuo da Sala de Amostra>6E-4Pa
Vácuo da sala do canhão de elétrons>2E-7 Pa
Controle de vácuo totalmente automático
Função de bloqueio a vácuo
1 bomba de íons de pulverização
1 Bomba de Composto de Íons Getter
1 Bomba Molecular Turbo
1 Bomba Mecânica
Vácuo da Sala de Amostra>6E-4Pa
Vácuo da sala do canhão de elétrons>2E-7 Pa
Controle de vácuo totalmente automático
Função de bloqueio a vácuo
Detector SE: Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector) SE: Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector) SE: Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector)
BSE: Segmentação de Semicondutor 4
Detector de dispersão traseira


Modelo opcional: A63.7069-LV
BSE(LV): Segmentação de Semicondutor 4
Detector de dispersão traseira
Opcional Opcional
CCD:Câmera CCD Infravermelha CCD:Câmera CCD Infravermelha CCD:Câmera CCD Infravermelha
Estender Porta 2 portas estendidas na sala de amostra para
EDS, BSD, WDS etc.
4 portas estendidas na sala de amostra para
BSE, EDS, BSD, WDS etc.
4 portas estendidas na sala de amostra para
BSE, EDS, BSD, WDS etc.
Estágio de Amostra Estágio de 5 eixos, 4Auto+1ManualAo controle
Faixa de viagem:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90°(Manual)
Alerta de toque e função de parada
5 EixosAuto MeioPalco
Faixa de viagem:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Alerta de toque e função de parada

Modelo opcional:

A63.7080-M5 EixosManualPalco
A63.7080-L5 EixosAuto GrandePalco
5 EixosAuto GrandePalco
Faixa de viagem:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Alerta de toque e função de parada
Max espécime Diâmetro 175mm, Altura 35mm Diâmetro 175mm, Altura 20mm Diâmetro 340mm, Altura 50mm
Sistema de imagem Resolução máxima de imagem fixa real 4096x4096 pixels,
Formato de arquivo de imagem: BMP (padrão), GIF, JPG, PNG, TIF
Resolução máxima de imagem fixa real 16384x16384 pixels,
Formato de arquivo de imagem: TIF (padrão), BMP, GIF, JPG, PNG
Vídeo: Gravação Automática de Vídeo Digital .AVI
Resolução máxima de imagem fixa real 16384x16384 pixels,
Formato de arquivo de imagem: TIF (padrão), BMP, GIF, JPG, PNG
Vídeo: Gravação Automática de Vídeo Digital .AVI
Computador e software PC Work Station Win 10 System, com software profissional de análise de imagem para controlar totalmente a operação do microscópio SEM, especificação do computador não inferior a Inter I5 3.2GHz, memória 4G, monitor LCD IPS de 24", disco rígido de 500G, mouse, teclado
Exibição de fotos O nível de imagem é rico e meticuloso, mostrando ampliação em tempo real, régua, tensão, curva cinza
Dimensão
& Peso
Corpo do microscópio 800x800x1850mm
Mesa de trabalho 1340x850x740mm
Peso Total 400Kg
Corpo do microscópio 800x800x1480mm
Mesa de trabalho 1340x850x740mm
Peso Total 450Kg
Corpo do microscópio 1000x1000x1730mm
Mesa de trabalho 1330x850x740mm
Peso Total 550Kg
acessórios opcionais
acessórios opcionais A50.7002Espectrômetro de raios X dispersivos de energia EDS
A50.7011Revestimento por pulverização de íons
A50.7001Detector de elétrons de retroespalhamento BSE
A50.7002Espectrômetro de raios X dispersivos de energia EDS
A50.7011Revestimento por pulverização de íons
A50.7030Motorizar Painel de Controle
A50.7001Detector de elétrons de retroespalhamento BSE
A50.7002Espectrômetro de raios X dispersivos de energia EDS
A50.7011Revestimento por pulverização de íons
A50.7030Motorizar Painel de Controle
 
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A50.7001 Detector de BSE Detector de Espalhamento Traseiro de Quatro Segmentos Semicondutor;
Disponível em Ingredientes A+B, Informações de Morfologia AB;
Amostra disponível Observar sem Sputtering Gold;
Disponível em Observe a impureza e a distribuição diretamente do mapa em escala de cinza.
A50.7002 EDS (detector de raios X) Janela de nitreto de silício (Si3N4) para otimizar a transmissão de raios X de baixa energia para análise de elementos leves;
Excelente resolução e sua eletrônica avançada de baixo ruído proporcionam excelente desempenho de rendimento;
A Pequena Pegada Oferece Flexibilidade Para Garantir Geometria Ideal E Condições De Coleta Aata;
Os detectores contêm um chip de 30mm2.
A50.7003 EBSD (difração retroespalhada de feixe de elétrons) o usuário pode analisar a orientação do cristal, fase do cristal e micro textura de materiais e desempenho de materiais relacionados, etc.
otimização automática das configurações da câmera EBSD
durante a coleta de dados, faça análises interativas em tempo real para obter o máximo de informações
todos os dados foram marcados com time tag, que pode ser visualizado a qualquer momento
alta resolução 1392 x 1040 x 12
Velocidade de digitalização e índice: 198 pontos / seg, com Ni como padrão, sob a condição de 2 ~ 5nA, pode garantir a taxa de índice ≥99%;
funciona bem sob a condição de baixa corrente de feixe e baixa tensão de 5kV a 100pA
precisão de medição de orientação: melhor que 0,1 graus
Usando o sistema de índice triplex: não há necessidade de confiar na definição de banda única, fácil indexação de baixa qualidade de padrão
banco de dados dedicado: banco de dados especial EBSD obtido por difração de elétrons: >400 estrutura de fase
Capacidade de índice: pode indexar automaticamente todos os materiais de cristal de 7 sistemas de cristal.
As opções avançadas incluem o cálculo da rigidez elástica (Elastic Stiffness), fator Taylor (Taylor), fator Schmidt (Schmid) e assim por diante.
A50.7010 Maquina de revestimento Escudo de proteção de vidro: ∮250mm;340mm de altura;
Câmara de Processamento de Vidro:
∮88mm;140mm de altura, ∮88mm;57mm de altura;
Tamanho do estágio da amostra: ∮40mm (máximo);
Sistema de vácuo: bomba de moléculas e bomba mecânica;
Detecção de Vácuo: Pirani Gage;
Vácuo: melhor que 2 X 10-3 Pa;
Proteção a Vácuo: 20 Pa Com Válvula de Inflação em Microescala;
Movimento da amostra: Rotação plana, precessão de inclinação.
A50.7011 Revestimento por pulverização de íons Câmara de Processamento de Vidro: ∮100mm;130mm de altura;
Tamanho do palco do espécime: ∮40mm (segure 6 copos do espécime);
Tamanho do alvo dourado: ∮58mm*0.12mm (espessura);
Detecção de Vácuo: Pirani Gage;
Proteção a Vácuo: 20 Pa Com Válvula de Inflação em Microescala;
Gás Médio: argônio ou ar com gás argônio entrada de ar especial e regulagem de gás em microescala.
A50.7012 Revestimento de pulverização de íons de argônio A Amostra Foi Revestida Com Carbono E Ouro Sob Alto Vácuo;
Mesa de Amostra Rotativa, Revestimento Uniforme, Tamanho de Partícula Cerca de 3-5nm;
Sem seleção de material alvo, sem danos às amostras;
As funções de limpeza de íons e diluição de íons podem ser realizadas.
A50.7013 Secador de Ponto Crítico Diâmetro interno: 82mm, Comprimento interno: 82mm;
Faixa de pressão: 0-2000psi;
Faixa de temperatura: 0°-50°C (32°-122°F)
A50.7014 Litografia por feixe de elétrons Baseado em microscópio eletrônico de varredura, um novo sistema de nanoexposição foi desenvolvido;
A modificação manteve todas as funções sem para fazer imagem de largura de linha em nanoescala;
O sistema Ebl modificado amplamente aplicado em dispositivos microeletrônicos, dispositivos optoeletrônicos, dispositivos quânticos, pesquisa e desenvolvimento de sistemas microeletrônicos.
 
8x-800000x Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem 17
A63.7080, A63.7081 Equipamento de Consumíveis Padrão
1 Filamento de Emissão de Campo Instalado no microscópio 1 peça
2 Copo de Amostra Diâmetro 13mm 5 peças
3 Copo de Amostra Diâmetro 32mm 5 peças
4 Fita condutora dupla face de carbono 6mm 1 pacote
5 Graxa de vácuo   10 PCS
6 Pano Sem Pêlo   1 tubo
7 Pasta de polimento   1 peça
8 Caixa de Amostra   2 Bolsas
9 Cotonete   1 peça
10 Filtro de névoa de óleo   1 peça
A63.7080, A63.7081 Equipamento Padrão de Ferramentas e Peças
1 Chave hexagonal interna 1,5 mm ~ 10 mm 1 conjunto
2 Pinças Comprimento 100-120mm 1 peça
3 Chave de fenda 2*50mm, 2*125mm 2 peças
4 Chave de fenda cruzada 2*125mm 1 peça
5 Limpe o tubo de ventilação Diâmetro 10/6,5 mm (diâmetro externo/diâmetro interno) 5m
6 Válvula redutora de pressão de ventilação Pressão de Saída 0-0,6MPa 1 peça
7 Fonte de alimentação interna de cozimento 0-3A DC 2 peças
8 Fonte de alimentação UPS 10kVA 2 peças

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