A63.7088 | |
Resolução | 1.0nm@30KV(SE), 1,5nm@1KV(SE) |
Magnificação | 1x~2000000x |
Arma de elétrons | Pistola de emissões de campo Schottky |
Voltagem | Tensão de aceleração 0,02 ~ 30KV |
Feixe de elétrons | 1pA~20nA |
Sistema de vácuo | 1 bomba de íons de sputter, 1 bomba turbo molecular, 1 bomba mecânica |
Detector | SE na lente, SE na sala de amostragem, BSE, CCD |
Extensão da porta | Extender Portos na Sala de Amostragem para BSE, EDS, EBSD, CL, etc. |
Fase de colheita de espécimes | 5 EixosAutoFase, alcance de viagem: X=125mm, Y=125mm, Z=50mm, R=360°, T=-5°~+70° |
Exemplar máximo | Sala de amostragem Diâmetro 330 mm, altura 260 mm |
Sistema de imagem | Real Imagem Imóvel Resolução máxima 256x256~16k~16k Pixels |
Computador e Software | PC Work Station Windows System, com software de análise de imagem profissional para controlar totalmente toda a operação do microscópio SEM, mouse, teclado |
Painel de controlo | Incluído |
Dimensões e peso | Corpo principal 1900x1100x1800mm, Peso total 800Kg |
Acessórios opcionais | |
A50.7091 | Limpador de feixe de íons |
A50.7092 | Lâmpada de canhão de emissão de campo |
▶Projeto Superior de Eletrônica Óptica ●Arma de elétrons de emissão de campo térmico, feixe estável, alta resolução de imagem ●Tecnologia de aceleração de tubo completo garante alto desempenho de imagem do feixe de elétrons em baixa tensão de aceleração ●Design de lentes compostas de lentes eletrostáticas e lentes magnéticas, a lente objetiva não tem vazamento magnético, e a imagem de amostras magnéticas é livre de preocupações |
▶Sistema abrangente de recolha de sinais ● Pode simultaneamente recolher sinais de dois tipos de elétrons secundários, elétrons de retrodispersão e elétrons transmitidos. ● A morfologia da amostra e o contraste de composição são exibidos simultaneamente para revelar a morfologia microscópica da amostra e as informações de composição na maior medida possível. |