4,5 - 6 nm Microscópio Eletrônico de Varredura de Alta Ampliação Topografia de Superfície Eco SEM
A microscopia eletrônica de varredura (sem) é adequada para a observação da topografia da superfície de metais, cerâmicas, semicondutores, minerais, biologia, polímeros, compósitos e materiais em nanoescala unidimensionais, bidimensionais e tridimensionais (imagem eletrônica secundária, Ele pode ser usado para analisar os componentes de ponto, linha e superfície da microrregião. É amplamente utilizado em petróleo, geologia, campo mineral, eletrônica, campo de semicondutores, medicina, campo de biologia, indústria química, campo de material polimérico, investigação criminal de segurança pública, agricultura, silvicultura e outras áreas.
| A63.7062 Eco Filamento de Tungstênio SEM | ||
| Resolução | 4,5 nm@30KV(SE);6nm@30KV(BSE) | |
| Ampliação | Ampliação negativa: 15x~250000x;Ampliação da tela: 30x~500000x | |
| Canhão de elétrons | Carteidge de filamento de tungstênio pré-centrado de cátodo aquecido de tungstênio | |
| Tensão de aceleração | 0~30KV | |
| Sistema de lentes | Lente eletromagnética de três níveis (lente cônica) | |
| Abertura objetiva | Sistema de vácuo externo ajustável de abertura de molibdênio | |
| Estágio de Amostra | Estágio dos Cinco Eixos | |
| Faixa de viagem | X(Automático) | 0~50mm |
| Y(Automático) | 0~50mm | |
| Z(Manual) | 0~25mm | |
| R(Manual) | 360º | |
| T(Manual) | -5º~90º | |
| Diâmetro máximo da amostra | 150 mm | |
| Detector | Detector de elétrons secundários de alto vácuo (com proteção do detector) | |
| Modificação | Atualização de palco; EBL; STM; AFM; Estágio de aquecimento; Estágio crio; Estágio de tração; Manipulador Micro-nano; SEM + Máquina de Revestimento; SEM + Laser | |
| Acessórios | CCD, Lab6, Detector de Raios X (EDS), EBSD, CL, WDS, Máquina de Revestimento | |
| Sistema de vácuo | Bombas Moleculares Turbo; Bomba de Rotação | |
| Corrente do feixe de elétrons | 10pAt~0,1μA | |
| computador | Estação de trabalho personalizada da Dell | |
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