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Opto Edu A61.4510 Scanning Tunneling Electron Microscope Constant Height Current Mode

Microscópio de elétron de varredura Opto Constant Height Current Mode da escavação de um túnel de Edu A61.4510

  • Realçar

    microscópio de elétron opto do encapsulamento da exploração do edu

    ,

    microscópio de elétron constante do encapsulamento da exploração da altura

    ,

    microscópio opto do edu do modo atual

  • Modo do trabalho
    De “modo Constant Height Mode Constant Current”
  • Curva atual do espectro
    “I-V Curve Current-Distance Curve”
  • Escala XY da varredura
    5×5um
  • Definição XY da varredura
    0.05Nm
  • Escala da varredura de Z
    1um
  • Definição da varredura de Y
    0.01nm
  • Velocidade da varredura
    0.1Hz~62Hz
  • Ângulo da varredura
    0~360°
  • Tamanho da amostra
    “Φ≤68mm H≤20mm”
  • Mover-se XY da fase
    15×15mm
  • Projeto deabsorção
    Suspensão da mola
  • Syestem ótico
    zumbido 1~500x contínuo
  • Saída
    USB2.0/3.0
  • Software
    Vitória XP/7/8/10
  • Lugar de origem
    China
  • Marca
    OPTO-EDU
  • Certificação
    CE, Rohs
  • Número do modelo
    A61.4510
  • Quantidade de ordem mínima
    1pc
  • Preço
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Detalhes da embalagem
    Embalagem da caixa, para o transporte da exportação
  • Tempo de entrega
    5~20 dias
  • Termos de pagamento
    L/C, Western Union, T/T, MoneyGram
  • Habilidade da fonte
    5000 meses do PCS/

Microscópio de elétron de varredura Opto Constant Height Current Mode da escavação de um túnel de Edu A61.4510

Microscópio de varredura da escavação de um túnel

  • Projeto miniaturizado e destacável, muito fácil levar e ensino da sala de aula
  • A cabeça da detecção e a fase da exploração da amostra são integradas, a estrutura é muito estável, e o antiparasitário é forte
  • O método de alimentação da agulha inteligente de detecção automática cerâmica piezoelétrica pressurizada motor-controlada protege a ponta de prova e a amostra
  • Sistema lateral da observação do CCD, observação do tempo real do estado da inserção da agulha da ponta de prova e posicionamento da área de varredura da amostra da ponta de prova
  • Efeito à prova de choque à prova de choque do método da suspensão da mola, o simples e o prático, o bom

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Microscópio de elétron de varredura Opto Constant Height Current Mode da escavação de um túnel de Edu A61.4510 1

Projeto miniaturizado e destacável, muito fácil levar e ensino da sala de aula

 

A cabeça da detecção e a fase da exploração da amostra são integradas, a estrutura é muito estável, e o antiparasitário é forte

 

A amostra da movimentação da único-linha central aproxima automaticamente a ponta de prova verticalmente, de modo que a ponta da agulha seja perpendicular à varredura da amostra

 

O método de alimentação da agulha inteligente de detecção automática cerâmica piezoelétrica pressurizada motor-controlada protege a ponta de prova e a amostra

 

Sistema lateral da observação do CCD, observação do tempo real do estado da inserção da agulha da ponta de prova e posicionamento da área de varredura da amostra da ponta de prova

 

Efeito à prova de choque à prova de choque do método da suspensão da mola, o simples e o prático, o bom

 

Editor não-linear integrado do usuário da correção do varredor, caracterização do nanômetro e precisão da medida melhor de 98%

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A61.4510
Modo do trabalho Constant Height Mode
Constant Current Mode
Curva atual do espectro I-V Curve
Curva da Atual-distância
Escala XY da varredura 5×5um
Definição XY da varredura 0.05nm
Escala da varredura de Z 1um
Definição da varredura de Y 0.01nm
Velocidade da varredura 0.1Hz~62Hz
Ângulo da varredura 0~360°
Tamanho da amostra Φ≤68mm
H≤20mm
Mover-se XY da fase 15×15mm
Projeto deabsorção Suspensão da mola
Syestem ótico zumbido 1~500x contínuo
Saída USB2.0/3.0
Software Vitória XP/7/8/10
Microscópio Microscópio ótico Microscópio de elétron Microscópio de varredura da ponta de prova
Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
Observação Imersão 1500x do óleo Átomos de carbono do diamante da imagem latente Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente
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Interação da Ponta de prova-amostra Medida do sinal Informação
Força Força eletrostática Forma
Corrente do túnel Atual Forma, condutibilidade
Força magnética Fase Estrutura magnética
Força eletrostática Fase distribuição de carga
  Definição Condição de trabalho Temperation de trabalho Damge a provar Profundidade da inspeção
SPM Atom Level 0.1nm Normal, líquido, vácuo Sala ou baixo Temperation Nenhum 1~2 Atom Level
TEM Ponto 0.3~0.5nm
Estrutura 0.1~0.2nm
Vácuo alto Sala Temperation Pequeno Geralmente <100nm>
SEM 6-10nm Vácuo alto Sala Temperation Pequeno 10mm @10x
1um @10000x
FIM Atom Level 0.1nm Vácuo alto super 30~80K Damge Atom Thickness