Microscópio de Força Atômica de Nível de Pesquisa

• Nível de pesquisa, controlador combinado e design do corpo principal, com modo de contato, modo de toque, objetivo 10x.
• Laser de precisão e dispositivo de posicionamento da sonda, é simples e conveniente substituir a sonda e ajustar o ponto
• Scanners cerâmicos piezoelétricos de alta precisão e grande escala podem ser selecionados de acordo com diferentes requisitos de precisão e alcance de varredura
• Posicionamento óptico da lente objetiva 10X APO, sem necessidade de foco, observação em tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da sonda;
• O método à prova de choque da suspensão da mola é simples e prático, e possui forte capacidade anti-interferência.

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• ◆ A cabeça de detecção a laser e o estágio de varredura de amostra são integrados, a estrutura é muito estável e a anti-interferência é forte

• ◆ Dispositivo de posicionamento de sonda de precisão, ajuste de alinhamento de ponto a laser é muito fácil

  ◆ A amostra de acionamento de eixo único se aproxima automaticamente da sonda verticalmente, de modo que a ponta da agulha fique perpendicular à varredura da amostra

  ◆ O método inteligente de alimentação de agulha de detecção automática de cerâmica piezoelétrica pressurizada controlada por motor protege a sonda e a amostra

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  ◆ Scanners cerâmicos piezoelétricos de alta precisão e amplo alcance podem ser selecionados livremente

   

  ◆ Posicionamento óptico automático da lente objetiva de alta ampliação, sem necessidade de foco, observação em tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da sonda

• ◆ Método à prova de choque de suspensão de mola, simples e prático, bom efeito à prova de choque

  ◆ Caixa à prova de som blindada de metal, sensor de temperatura e umidade de alta precisão integrado, monitoramento em tempo real do ambiente de trabalho

• ◆ Editor de usuário de correção não linear do scanner integrado, caracterização nanométrica e precisão de medição melhor que 98%

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• Especificação	A62,4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo de trabalho	Modo de toque [Opcional] Modo de contato Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva do Espectro Atual	Curva RMS-Z [Opcional] Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ
  Faixa de varredura XY	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Resolução de digitalização XY	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm
  Faixa de varredura Z	2,5 um	2,5 um	5um	5um
  Resolução de digitalização Y	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm
  Velocidade de digitalização	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz
  Ângulo de varredura	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Tamanho da amostra	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Movimento de Palco XY	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Design de Absorção de Choque	Suspensão de mola	Suspensão de mola Caixa de Blindagem Metálica	Suspensão de mola Caixa de Blindagem Metálica	-
  Sistema Óptico	4x Objetivo Resolução 2,5 um	4x Objetivo Resolução 2,5 um	10x Objetivo Resolução 1um	Ocular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x Câmera Digital de 5,0 M Monitor LCD de 10", com medição Iluminação LED Kohler Focagem Coaxial Grossa e Fina
  Resultado	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
  Programas	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10

• Microscópio	Microscópio óptico	Microscópio eletrônico	Microscópio de Sonda de Varredura
  Resolução máxima (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observação	Imersão em óleo 1500x	Imagem de átomos de carbono de diamante	Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem

• Interação Sonda-Amostra	Medir Sinal	Em formação
  Força	Forca eletrostatica	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, Condutividade
  Força magnética	Estágio	Estrutura Magnética
  Forca eletrostatica	Estágio	distribuição de carga

• 	Resolução	Condição de trabalho	Temperação de Trabalho	Dano à Amostra	Profundidade de Inspeção
  SPM	Nível do átomo 0,1 nm	Normal, Líquido, Vácuo	Sala ou Baixa Temperação	Nenhum	1~2 Nível do átomo
  TEM	Ponto 0,3~0,5nm Malha 0,1 ~ 0,2 nm	Alto vácuo	Temperação da Sala	Pequena	Geralmente <100nm
  SEM	6-10nm	Alto vácuo	Temperação da Sala	Pequena	10mm @ 10x 1um @ 10000x
  FIM	Nível do átomo 0,1 nm	Super alto vácuo	30~80K	Dano	Espessura do átomo

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