Microscópio ótico + atômico da força, completo

◆Projeto integrado do microscópio metalográfico ótico e do microscópio atômico da força, funções poderosas

◆Tem o microscópio ótico e as funções atômicas da imagem latente do microscópio da força, ambo podem trabalhar ao mesmo tempo sem se afetar

◆Ao mesmo tempo, tem as funções da 2D medida ótica e da medida atômica do microscópio 3D da força

• ◆A cabeça da detecção do laser e a fase da exploração da amostra são integradas, a estrutura é muito estável, e o antiparasitário é forte

  ◆O dispositivo de posicionamento da ponta de prova da precisão, ajuste do alinhamento do ponto de laser é muito fácil

• ◆A amostra da movimentação da único-linha central aproxima automaticamente a ponta de prova verticalmente, de modo que a ponta da agulha seja perpendicular à varredura da amostra

  ◆O método de alimentação da agulha inteligente de detecção automática cerâmica piezoelétrica pressurizada motor-controlada protege a ponta de prova e a amostra

• ◆sistema de posicionamento ótico da ampliação Ultra-alta para conseguir o posicionamento preciso da área da exploração da ponta de prova e da amostra

  ◆Editor não-linear integrado do usuário da correção do varredor, nanômetro

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• Especificação	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo do trabalho	Modo de batida [Opcional] Modo de contato Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva atual do espectro	Curva de RMS-Z [Opcional] F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve
  Escala XY da varredura	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Definição XY da varredura	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Escala da varredura de Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Definição da varredura de Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Velocidade da varredura	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Ângulo da varredura	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Tamanho da amostra	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Mover-se XY da fase	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Projeto deabsorção	Suspensão da mola	Suspensão da mola Metal que protege a caixa	Suspensão da mola Metal que protege a caixa	-
  Syestem ótico	objetivo 4x Definição 2.5um	objetivo 4x Definição 2.5um	objetivo 10x Definição 1um	Ocular 10x Plano LWD APO 5x10x20x50x da infinidade 5.0M Digital Camera 10" monitor do LCD, com medição Iluminação do diodo emissor de luz Kohler Focalização grosseira & fina coaxial
  Saída	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Vitória XP/7/8/10	Vitória XP/7/8/10	Vitória XP/7/8/10	Vitória XP/7/8/10

• Microscópio	Microscópio ótico	Microscópio de elétron	Microscópio de varredura da ponta de prova
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observação	Imersão 1500x do óleo	Átomos de carbono do diamante da imagem latente	Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente

• Interação da Ponta de prova-amostra	Medida do sinal	Informação
  Força	Força eletrostática	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, condutibilidade
  Força magnética	Fase	Estrutura magnética
  Força eletrostática	Fase	distribuição de carga

• 	Definição	Condição de trabalho	Temperation de trabalho	Damge a provar	Profundidade da inspeção
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, líquido, vácuo	Sala ou baixo Temperation	Nenhum	1~2 Atom Level
  TEM	Ponto 0.3~0.5nm Estrutura 0.1~0.2nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	Geralmente <100nm>
  SEM	6-10nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Vácuo alto super	30~80K	Damge	Atom Thickness

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