Microscópio ótico + atômico da força, completo
◆Projeto integrado do microscópio metalográfico ótico e do microscópio atômico da força, funções poderosas
◆Tem o microscópio ótico e as funções atômicas da imagem latente do microscópio da força, ambo podem trabalhar ao mesmo tempo sem se afetar
◆Ao mesmo tempo, tem as funções da 2D medida ótica e da medida atômica do microscópio 3D da força
-
◆A cabeça da detecção do laser e a fase da exploração da amostra são integradas, a estrutura é muito estável, e o antiparasitário é forte
◆O dispositivo de posicionamento da ponta de prova da precisão, ajuste do alinhamento do ponto de laser é muito fácil
-
◆A amostra da movimentação da único-linha central aproxima automaticamente a ponta de prova verticalmente, de modo que a ponta da agulha seja perpendicular à varredura da amostra
◆O método de alimentação da agulha inteligente de detecção automática cerâmica piezoelétrica pressurizada motor-controlada protege a ponta de prova e a amostra
-
◆sistema de posicionamento ótico da ampliação Ultra-alta para conseguir o posicionamento preciso da área da exploração da ponta de prova e da amostra
◆Editor não-linear integrado do usuário da correção do varredor, nanômetro
-
-
-
-
-
-
-
-
Especificação |
A62.4500 |
A622.4501 |
A62.4503 |
A62.4505 |
Modo do trabalho |
Modo de batida
[Opcional] Modo de contato Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático |
Modo de contato Modo de batida
[Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático |
Modo de contato Modo de batida
[Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático |
Modo de contato Modo de batida
[Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático |
Curva atual do espectro |
Curva de RMS-Z
[Opcional] F-Z Force Curve |
Curva de RMS-Z F-Z Force Curve |
Curva de RMS-Z F-Z Force Curve |
Curva de RMS-Z F-Z Force Curve |
Escala XY da varredura |
20×20um |
20×20um |
50×50um |
50×50um |
Definição XY da varredura |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
0.2nm |
Escala da varredura de Z |
2.5um |
2.5um |
5um |
5um |
Definição da varredura de Y |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
0.05nm |
Velocidade da varredura |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
Ângulo da varredura |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
0~360° |
Tamanho da amostra |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Φ≤90mm H≤20mm |
Mover-se XY da fase |
15×15mm |
15×15mm |
25×25um |
25×25um |
Projeto deabsorção |
Suspensão da mola |
Suspensão da mola Metal que protege a caixa |
Suspensão da mola Metal que protege a caixa |
- |
Syestem ótico |
objetivo 4x Definição 2.5um |
objetivo 4x Definição 2.5um |
objetivo 10x Definição 1um |
Ocular 10x Plano LWD APO 5x10x20x50x da infinidade 5.0M Digital Camera 10" monitor do LCD, com medição Iluminação do diodo emissor de luz Kohler Focalização grosseira & fina coaxial |
Saída |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
Software |
Vitória XP/7/8/10 |
Vitória XP/7/8/10 |
Vitória XP/7/8/10 |
Vitória XP/7/8/10 |
-
Microscópio |
Microscópio ótico |
Microscópio de elétron |
Microscópio de varredura da ponta de prova |
Max Resolution (um) |
0,18 |
0,00011 |
0,00008 |
Observação |
Imersão 1500x do óleo |
Átomos de carbono do diamante da imagem latente |
Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente |
|
|
|
-
Interação da Ponta de prova-amostra |
Medida do sinal |
Informação |
Força |
Força eletrostática |
Forma |
Corrente do túnel |
Atual |
Forma, condutibilidade |
Força magnética |
Fase |
Estrutura magnética |
Força eletrostática |
Fase |
distribuição de carga |
-
|
Definição |
Condição de trabalho |
Temperation de trabalho |
Damge a provar |
Profundidade da inspeção |
SPM |
Atom Level 0.1nm |
Normal, líquido, vácuo |
Sala ou baixo Temperation |
Nenhum |
1~2 Atom Level |
TEM |
Ponto 0.3~0.5nm Estrutura 0.1~0.2nm |
Vácuo alto |
Sala Temperation |
Pequeno |
Geralmente <100nm> |
SEM |
6-10nm |
Vácuo alto |
Sala Temperation |
Pequeno |
10mm @10x 1um @10000x |
FIM |
Atom Level 0.1nm |
Vácuo alto super |
30~80K |
Damge |
Atom Thickness |
-
-
-