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Opto Edu A62.4511 Scanning Microscope Contact Tapping Mode Plane Atomic Force

Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511

  • Realçar

    microscópio de exploração opto do edu

    ,

    microscópio de varredura baixo de mármore

    ,

    microscópio atômico da força do edu opto

  • Modo do trabalho
    De “Do modo magnético opcional do modo da fase do modo da fricção do】 do 【do modo do modo contato mo
  • Curva atual do espectro
    De “curva F-Z Force Curve RMS-Z”
  • Modo de varredura XY
    Exploração conduzida amostra, fase piezoelétrica da exploração do deslocamento do laço fechado
  • Escala XY da varredura
    Laço fechado 100×100um
  • Definição XY da varredura
    Laço fechado 0.5nm
  • Escala da varredura de Z
    5um
  • Definição da varredura de Z
    0.05Nm
  • Velocidade da varredura
    0.6Hz~30Hz
  • Ângulo da varredura
    0~360°
  • Peso da amostra
    ≤15Kg
  • Tamanho da fase
    De “】 opcional Dia.200mm Dia.300mm do 【Dia.100mm”
  • Mover-se XY da fase
    “100x100mm,】 opcional 200x200mm do 【da definição 1um 300x300mm”
  • Mover-se da fase Z
    “15mm,】 opcional 20mm do 【da definição 10nm 25mm”
  • Projeto deabsorção
    Da “suspensão mola Amortecedor ativo do】 opcional do 【”
  • Sistema ótico
    “】 Opcional 10x objetivo 20x objetivos do 【objetivo de 5x 5.0M Digital Camera”
  • Lugar de origem
    China
  • Marca
    OPTO-EDU
  • Certificação
    CE, Rohs
  • Número do modelo
    A62.4511
  • Quantidade de ordem mínima
    1pc
  • Preço
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Detalhes da embalagem
    Embalagem da caixa, para o transporte da exportação
  • Tempo de entrega
    5~20 dias
  • Termos de pagamento
    L/C, T/T, Western Union
  • Habilidade da fonte
    5000 meses do PCS/

Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511

Microscópio atômico de varredura plano da força

  • O projeto da cabeça de exploração do pórtico, a base de mármore, a fase da adsorção do vácuo, o tamanho da amostra e o peso são basicamente ilimitados
  • Varredor independente do deslocamento da pressão da três-linha central de A62.4510 + de circuito fechado, que pode fazer a varredura com elevada precisão em uma vasta gama
  • Método de alimentação da agulha inteligente com detecção automática de cerâmica piezoelétrica motor-controlada para proteger pontas de prova e amostras
  • Posicionamento ótico automático, nenhuma necessidade para ajustar o foco, observação do tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da ponta de prova
  • Equipado com o protetor fechado do metal, tabela deabsorção pneumática, capacidade antiparasitária forte
  • Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 0
  • Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 1      

          ◆O primeiro microscópio atômico comercial da força em China para realizar a exploração móvel combinada da ponta de prova e da amostra;

          ◆O primeiro em China para usar uma tabela de exploração piezoelétrica do deslocamento do circuito fechado independente da três-linha central para conseguir a exploração em grande escala da elevada precisão;

          ◆a exploração independente da Três-linha central, XYZ não se afeta, muito apropriado para a detecção tridimensional do material e da topografia;

          ◆Controle elétrico de tabela movente da amostra e de tabela de levantamento, que pode ser programado com posição do multi-ponto realizar a detecção automática rápida;

          ◆Projeto da cabeça de exploração do pórtico, base de mármore, adsorção do vácuo e fase magnética da adsorção;

          ◆O motor controlo automàtica o método de alimentação da agulha inteligente da detecção automática cerâmica piezoelétrica para proteger a ponta de prova e a amostra;

          ◆Posicionamento do microscópio da ampliação alta, observação do tempo real e posicionamento óticos auxiliares da ponta de prova e da área de varredura da amostra;

          ◆A fase de varredura piezoelétrica do circuito fechado não exige a correção não-linear, e a precisão da caracterização e da medida do nanômetro é melhor de 99,5%.

Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 2

  • Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 3
  •   A62.4510 A62.4511
    Modo do trabalho Modo de contato
    Modo de batida

    [Opcional]
    Modo da fricção
    Modo da fase
    Modo magnético
    Modo eletrostático
    Modo de contato
    Modo de batida

    [Opcional]
    Modo da fricção
    Modo da fase
    Modo magnético
    Modo eletrostático
    Curva atual do espectro Curva de RMS-Z
    F-Z Force Curve
    Curva de RMS-Z
    F-Z Force Curve
    Modo de varredura XY Exploração conduzida ponta de prova,
    Varredor Piezo do tubo
    Exploração conduzida amostra, fase piezoelétrica da exploração do deslocamento do laço fechado
    Escala XY da varredura 70×70um Laço fechado 100×100um
    Definição XY da varredura 0.2nm Laço fechado 0.5nm
    Modo de varredura de Z   Exploração conduzida ponta de prova
    Escala da varredura de Z 5um 5um
    Definição da varredura de Z 0.05nm 0.05nm
    Velocidade da varredura 0.6Hz~30Hz 0.6Hz~30Hz
    Ângulo da varredura 0~360° 0~360°
    Peso da amostra ≤15Kg ≤0.5Kg
    Tamanho da fase Dia.100mm

    [Opcional]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Dia.100mm

    [Opcional]
    Dia.200mm
    Dia.300mm
    Mover-se XY da fase 100x100mm, definição 1um

    [Opcional]
    200x200mm
    300x300mm
    100x100mm, definição 1um

    [Opcional]
    200x200mm
    300x300mm
    Mover-se da fase Z 15mm, definição 10nm
    [Opcional]
    20mm
    25mm
    15mm, definição 10nm
    [Opcional]
    20mm
    25mm
    Projeto deabsorção Suspensão da mola

    [Opcional]
    Amortecedor ativo
    Suspensão da mola

    [Opcional]
    Amortecedor ativo
    Sistema ótico 5x objetivo
    5.0M Digital Camera

    [Opcional]
    10x objetivo
    20x objetivo
    5x objetivo
    5.0M Digital Camera

    [Opcional]
    10x objetivo
    20x objetivo
    Saída USB2.0/3.0 USB2.0/3.0
    Software Vitória XP/7/8/10 Vitória XP/7/8/10
    Corpo principal Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore
  • Microscópio Microscópio ótico Microscópio de elétron Microscópio de varredura da ponta de prova
    Max Resolution (um) 0,18 0,00011 0,00008
    Observação Imersão 1500x do óleo Átomos de carbono do diamante da imagem latente Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente
    Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 4   Força atômica plana de batida do modo do contato Opto do microscópio de exploração de Edu A62.4511 5
  • Interação da Ponta de prova-amostra Medida do sinal Informação
    Força Força eletrostática Forma
    Corrente do túnel Atual Forma, condutibilidade
    Força magnética Fase Estrutura magnética
    Força eletrostática Fase distribuição de carga
  •   Definição Condição de trabalho Temperation de trabalho Damge a provar Profundidade da inspeção
    SPM Atom Level 0.1nm Normal, líquido, vácuo Sala ou baixo Temperation Nenhum 1~2 Atom Level
    TEM Ponto 0.3~0.5nm
    Estrutura 0.1~0.2nm
    Vácuo alto Sala Temperation Pequeno Geralmente <100nm>
    SEM 6-10nm Vácuo alto Sala Temperation Pequeno 10mm @10x
    1um @10000x
    FIM Atom Level 0.1nm Vácuo alto super 30~80K Damge Atom Thickness
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