OPTO-EDU A63.7220 Microscópio Eletrônico de Transmissão de Emissão de Campo, 200KV, 1500000x
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Tensão de aceleração200 kV, Fábrica alinhada a 80 kV e 200 kV
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Fonte de eletrõesEmitente de campo Schottky de alto brilho
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Corrente da sonda≥ 1,5nA/1nm Sonda
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Resolução da linha TEM0.23 nm
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Vazio do canhão FEG< 1x10-6Pa,
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GoniômetroGoniômetro totalmente excêntrico com todos os 5 eixos motorizados
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Lugar de origemChina
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MarcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificaçãoCE, Rohs
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Número do modeloA63.7220
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Documento
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Quantidade de ordem mínima1 por cento
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PreçoFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Detalhes da embalagemEmbalagem da caixa, para o transporte da exportação
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Tempo de entrega5 a 20 dias
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Termos de pagamentoT/T, West Union, Paypal
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Habilidade da fontemês de 5000 PCes
OPTO-EDU A63.7220 Microscópio Eletrônico de Transmissão de Emissão de Campo, 200KV, 1500000x
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A63.7220é um Microscópio Eletrônico de Transmissão de Emissão de Campo (TEM), 200KV, 1500000x, desenvolvido e projetado de forma independente para ciência de materiais, semicondutores e outras áreas. Este microscópio eletrônico foi projetado para ser fácil de operar e altamente estável, e pode fornecer soluções como difração de elétrons in-situ, de alta resolução e microcristalina. |
| Design Amigável | Aparência refinada e design de interface do usuário, visão totalmente nova, atendem às necessidades de operação de usuários de diferentes níveis; fornecem tutoriais em vídeo de operação. |
| Novo Design do Tubo da Lente | Adota um design de sistema de condensador de quatro estágios, que pode ser controlado de forma independente, o que é propício para controlar o ângulo de convergência e a intensidade do feixe de elétrons para vários estudos de imagem; também é equipado com um sapato de polo grande, que pode realizar caracterização in-situ em uma variedade de condições. |
| Imagens de Alta Qualidade | O microscópio eletrônico é equipado com uma câmera CMOS altamente sensível, que pode obter facilmente imagens de alta qualidade. |
| Microscópio Eletrônico de Transmissão de Emissão de Campo (TEM), 200KV, 1500000x | |
| Tensão de Aceleração | 200 kV, Alinhado de Fábrica a 80 kV e 200kV |
| Fonte de Elétrons | Emissor de Campo Schottky de Alto Brilho |
| Corrente da Sonda | ≥ 1,5nA/1nm Sonda |
| Corrente do Feixe | Máximo ≥ 50nA a 200kV |
| Resolução da Linha TEM | 0,23 nm |
| Limite de Informação TEM | 0,2 nm |
| Ampliação | 20x a 1500000x. |
| Vácuo da Pistola FEG | < 1x10-6Pa, |
| Vácuo da Coluna TEM | <5x10-5Pa |
| Goniômetro | Goniômetro Totalmente Excêntrico com Todos os 5 Eixos Motorizados |
| Câmera | Câmera CMOS EMSIS XAROSA 5120x3840 montada na parte inferior, aprimorada com velocidade de 20M |
| Estágio | Suporte Compu Stage de Dupla Inclinação |
| X ±1mm, Y ±1mm, Z ±0,35mm, α ±25°, β ±25° | |
| Atualizável | STEM, Amostras Criogênicas, Tomografia, Análise EDS |
| Garantia | Garantia de Um (1) Ano. |
| Acessórios Opcionais | |
| Instalação | Pacote de Serviço de Instalação e Treinamento Operacional no Local Opcional |
| STEM | Detector STEM Anular PNDetector, Módulo Avançado ADV-STEM (Incluindo STEM-HAADF e BF) |
| EDS | Bruker XFlash 7T30S |
| Suporte de Tomografia | 1. Tamanho da amostra: φ3mm. |
| 2. Faixa de inclinação alfa: ±70°. | |
| 3. Resolução: ≤0,34nm (em qualquer direção). | |
| 4. Taxa de deriva:<1,5nm/min. | |
| 5. Campo de visão: ≥1,6mm@inclinação de 70°. | |
| Suporte de Amostra Criogênica | Suporte de amostra criogênica: |
| 1. Tamanho da amostra: φ3mm. | |
| 2. Faixa de inclinação alfa: ±70°. | |
| 3. Resolução: ≤0,34nm (em qualquer direção). | |
| 4. Taxa de deriva:<1,5nm/min. | |
| 5. Campo de visão: ≥1,6mm@inclinação de 70°. | |
| Estação de Bombeamento Molecular | |
| 1. Vácuo final melhor que 10e-7 mbar. | |
| 2. Multifuncional: Armazenamento de amostras e hastes, teste de vazamento de hastes in-situ. | |
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