Desempenho excepcional, imagem de alta velocidade, sinais diversos. A largura de banda de aquisição de sinal do microscópio eletrônico de varredura de mesa ZEM18 atinge 10M, velocidade de varredura rápida, observação em tempo real de amostras no modo de vídeo, sem fantasmas, arrasto, não perca todos os detalhes. compatível com uma variedade de ZEP.TOOLS palco de amostra funcional in-situ.
Especificação Principal: 1. Tensão de aceleração: 3-18kV, continuamente ajustável. 2. Tipo de canhão de elétrons: filamento de tungstênio pré-alinhado, vida útil de 100 horas, fácil de substituir pelo usuário, lente de canhão de dois estágios altamente integrada, sem necessidade de ajustar manualmente o diafragma da lente objetiva. 3. Ampliação ≥200000X; 4. Resolução:≤6nm@18KV 5. Detector: detector de elétrons secundários (SE), detector de retroespalhamento quádruplo (BSE), 6. Mesa: mesa motorizada XY de 2 eixos, movimento 40x30mm (40x40mm opcional); 7. Tamanho máximo da amostra: 80x42x40mm 8. Troca de amostra e tempo de bombeamento de alto vácuo≤ 90s. 9. Sistema de alto vácuo: bomba turbomolecular embutida, bomba mecânica externa, o vácuo na câmara de amostra ≥1x10-1Pa, controle totalmente automático; 10. Modo de vídeo ≥512x512 pixels, sem necessidade de varredura de janela pequena. 11. Modo de varredura rápida: tempo de imagem≤3s, 512x512 pixels. 12. Modo de varredura lenta: tempo de imagem≤40s, 2048x2048 pixels. 13. Arquivo de imagem: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de um toque de brilho e contraste, foco automático, costura de imagem grande 15. Função de navegação: navegação por câmera óptica e câmera de cabine. 16. Função de medição de imagem: distância, ângulo, etc. 17. Incluindo computador e software, controle do mouse. 18. Opcional: --Filamento de tungstênio (20 peças/caixa) --EDS --Baixo vácuo (1-100Pa) --Módulo Eixo Z, Eixo T --Modo de desaceleração, 1-10KV, pode observar amostras não condutoras ou de baixa condutividade sem pulverização de ouro, apenas para o modo BSE --Palco In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc. 19. Tamanho do microscópio: 283*553*505mm, tamanho da bomba mecânica 340*160*140mm |
Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
Resolução | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
Ampliação | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
Canhão de Elétrons | Tungstênio | Tungstênio | Tungstênio | LaB6 | Schotty FEG |
Voltagem | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
CCD de Navegação | CCD | CCD | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine |
Tempo de Vácuo | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
Sistema de Vácuo | Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba de Íons |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba de Íons x2 |
Vácuo | Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Mesa | Mesa XY, 40x30/40x40mm |
Mesa XY, 40x30/40x40mm |
Mesa XY, 60x55mm |
Mesa XY, 60x55mm |
Mesa XY, 60x55mm |
Precisão da Mesa | - | Posição Precisa 5um | |||
Distância de Trabalho | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
Amostra Máx. | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
Opcional | Filamento de Tungstênio 20 peças/caixa | Filamento Lab6 | Lâmpada de Emissão de Campo | ||
EDS Oxford AZtecOne com XploreCompact 30 | |||||
- | Baixo Vácuo 1-100Pa | Baixo Vácuo 1-30Pa | |||
- | Módulo Eixo Z | Mesa de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
- | Módulo Eixo T | Mesa de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
- | - | Mesa de 5 Eixos, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
- | - | Plataforma de Absorção de Choque, Para Mesa de 3 Eixos, 5 Eixos | |||
- | Modo de Desaceleração 1-10KV Para Observar Amostras Não Condutoras, Apenas Para BSE | ||||
- | Palco In-Situ Da Fábrica Original, Aquecimento, Resfriamento, Alongamento, etc. | ||||
UPS |
▶ AZtecOne com XploreCompact 30 para TTM
Análise EDS Convencional do Sistema O sistema fornece análise qualitativa e quantitativa de diferentes materiais, analisando elementos que variam de B(5) a cf (98). Além de varreduras de pontos individuais da superfície da amostra, varreduras de linha e varreduras espectrais elementares poderosas também estão disponíveis. Combinado com um detector personalizado, a análise e o relatório podem ser feitos em segundos. |
Área Cristalina Efetiva | 30mm2 | Resolução (De Uma Foto) | Mn Ka <129eV @50.000cps |
Faixa de Detecção Elemental | B (5) a cf (98) | Taxa Máxima de Contagem de Entrada | >1.000.000 cps |