A63.7003 Microscópios Eletrônicos de Varredura (MEV) de Mesaincorporam inúmeras tecnologias inovadoras, oferecendo não apenas excelente desempenho de imagem, mas também portabilidade, atendendo a uma ampla gama de necessidades de aplicação. Tanto nacional quanto internacionalmente, a série ZEM, com seu posicionamento de ponta e modelos diversos, alcançou padrões avançados em clareza de imagem, facilidade de uso e integração de sistemas.
A63.7003é renomado por seu alto nível de integração e opções de configuração flexíveis. A interface do usuário é simples, fácil de aprender e operar, permitindo que até mesmo usuários não especialistas se tornem proficientes rapidamente. O software acompanhante suporta todo o fluxo de trabalho, desde a preparação da amostra, ajuste de parâmetros, até a análise de imagem, fornecendo uma solução integrada e eficiente.A63.7003demonstrou fortes capacidades analíticas em vários campos, como novos materiais, nova energia, biomedicina e semicondutores, auxiliando pesquisadores na exploração dos mistérios do mundo microscópico. Devido à sua excelente relação custo-benefício, a série ZEM tornou-se a escolha preferida para muitas universidades, instituições de pesquisa e empresas que buscam um microscópio eletrônico de varredura de mesa.
O MEV de bancada A63.7003 utiliza uma gama mais ampla de tensões de aceleração, passos de 1Kv e uma ampliação máxima de 360.000x com uma resolução de até 5nm. O modo de desaceleração de mesa permite a observação em tempo real de produtos de baixa condutividade sem a necessidade de pulverização de ouro. O compartimento de amostra extra grande pode ser integrado com uma ampla gama de plataformas de expansão in situ para atender a diferentes necessidades experimentais e de inspeção. |
Condições de Trabalho: Requisitos ambientais: tamanho pequeno, toda a máquina pode ser colocada em uma mesa de laboratório comum, sem necessidade de ser equipada com uma mesa adicional de absorção de choque. 1. Fonte de alimentação 220V, 50Hz, 1KW 2. Temperatura: Temperatura ambiente de operação: 15°C-30°C 3. Umidade:<80%UR |
Especificação Principal: 1. Tensão de aceleração: 3-20kV, continuamente ajustável. 2. Tipo de canhão de elétrons: filamento de tungstênio pré-alinhado, vida útil de 100 horas, fácil de substituir pelo usuário, lente de canhão de dois estágios altamente integrada, sem necessidade de ajustar manualmente o diafragma da lente objetiva. 3. Ampliação ≥360000X; 4. Resolução:≤4nm@20KV 5. Detector: detector de elétrons secundários (SE), detector de retroespalhamento quádruplo (BSE), 6. Estágio: Estágio motorizado XY de 2 eixos, movendo 60x55mm; 7. Tamanho máximo da amostra: 100*78*68.5mm enquanto os eixos XY se movem livremente 8. Troca de amostra e tempo de bombeamento de alto vácuo≤ 30s. 9. Sistema de alto vácuo: bomba turbomolecular embutida, bomba mecânica externa, o vácuo na câmara de amostra ≥1x10-1Pa, controle totalmente automático; 10. Modo de vídeo ≥512x512 pixels, sem necessidade de varredura de janela pequena. 11. Modo de varredura rápida: tempo de imagem≤3s, 512x512 pixels. 12. Modo de varredura lenta: tempo de imagem≤40s, 2048x2048 pixels. 13. Arquivo de imagem: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de um toque de brilho e contraste, foco automático, costura de imagem grande 15. Função de navegação: navegação por câmera óptica e câmera de cabine. 16. Função de medição de imagem: distância, ângulo, etc. 17. Incluindo computador e software, controle do mouse. 18. Opcional: --Filamento de tungstênio (20pcs/caixa) --EDS --Estágio Motorizado de 3 Eixos XYZ --Estágio Motorizado de 3 Eixos XYT --Estágio Motorizado de 5 Eixos XYZRT --Baixo vácuo (1-100Pa) --Modo de desaceleração, 1-10KV, pode observar amostras não condutoras ou de baixa condutividade sem pulverização de ouro, apenas para o modo BSE --Estágio In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc. --Plataforma de absorção de choque (recomendado para A63.7003) 19. Tamanho do microscópio 650*370*642mm, tamanho da bomba mecânica 340*160*140mm |
Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
Resolução | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
Ampliação | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
Canhão de Elétrons | Tungstênio | Tungstênio | Tungstênio | LaB6 | Schotty FEG |
Tensão | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
CCD de Navegação | CCD | CCD | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine |
Tempo de Vácuo | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
Sistema de Vácuo | Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba de Íons |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba de Íons x2 |
Vácuo | Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Estágio | Estágio XY, 40x30/40x40mm |
Estágio XY, 40x30/40x40mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Precisão do Estágio | - | Precisão de Posição 5um | |||
Distância de Trabalho | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
Amostra Máxima | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
Opcional | Filamento de Tungstênio 20 pcs/caixa | Filamento Lab6 | Lâmpada de Emissão de Campo | ||
EDS Oxford AZtecOne com XploreCompact 30 | |||||
- | Baixo Vácuo 1-100Pa | Baixo Vácuo 1-30Pa | |||
- | Módulo Eixo Z | Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
- | Módulo Eixo T | Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
- | - | Estágio de 5 Eixos, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
- | - | Plataforma de Absorção de Choque, Para Estágio de 3 Eixos, 5 Eixos | |||
- | Modo de Desaceleração 1-10KV Para Observar Amostras Não Condutoras, Apenas Para BSE | ||||
- | Estágio In-Situ Da Fábrica Original, Aquecimento, Resfriamento, Alongamento, etc. | ||||
UPS |
▶ AZtecOne com XploreCompact 30 para TTM
Análise EDS Convencional do Sistema O sistema fornece análise qualitativa e quantitativa de diferentes materiais, analisando elementos que variam de B(5) a cf (98). Além de varreduras de pontos individuais da superfície da amostra, varreduras de linha e varreduras espectrais elementares poderosas também estão disponíveis. Combinado com um detector personalizado, a análise e o relatório podem ser feitos em segundos. |
Área Cristalina Efetiva | 30mm2 | Resolução (De Uma Foto) | Mn Ka <129eV @50.000cps |
Faixa de Detecção Elementar | B (5) a cf (98) | Taxa Máxima de Contagem de Entrada | >1.000.000 cps |