A63.7004 Microscópios Eletrônicos de Varredura (MEV) de Mesa, atualize a pistola de tungstênio para LaB6, incorporam inúmeras tecnologias inovadoras, oferecendo não apenas excelente desempenho de imagem, mas também portabilidade, atendendo a uma ampla gama de necessidades de aplicação. Tanto nacional quanto internacionalmente, a série ZEM, com seu posicionamento de ponta e modelos diversos, alcançou padrões avançados em clareza de imagem, facilidade de uso e integração de sistemas.
A63.7004 é renomado por seu alto nível de integração e opções de configuração flexíveis. A interface do usuário é simples, fácil de aprender e operar, permitindo que até mesmo usuários não especialistas se tornem proficientes rapidamente. O software acompanhante suporta todo o fluxo de trabalho, desde a preparação da amostra, ajuste de parâmetros, até a análise de imagem, fornecendo uma solução integrada e eficiente. A63.7004 demonstrou fortes capacidades analíticas em vários campos, como novos materiais, nova energia, biomedicina e semicondutores, auxiliando pesquisadores na exploração dos mistérios do mundo microscópico. Devido à sua excelente relação custo-benefício, a série ZEM tornou-se a escolha preferida para muitas universidades, instituições de pesquisa e empresas que buscam um microscópio eletrônico de varredura de mesa.
O MEV de bancada A63.7004 utiliza uma gama mais ampla de tensões de aceleração, passos de 1Kv e uma ampliação máxima de 360.000x com uma resolução de até 5nm. O modo de desaceleração de mesa permite a observação em tempo real de produtos de baixa condutividade sem a necessidade de pulverização de ouro. O compartimento de amostra extra grande pode ser integrado com uma ampla gama de plataformas de expansão in-situ para atender a diferentes necessidades experimentais e de inspeção. |
Condições de Trabalho: Requisitos ambientais: tamanho pequeno, toda a máquina pode ser colocada em uma mesa de laboratório comum, sem necessidade de ser equipada com uma mesa adicional de absorção de choque. 1.Fonte de alimentação 220V, 50Hz, 1KW 2.Temperatura: Temperatura ambiente de operação: 15°C-30°C 3.Umidade: <80%UR |
Especificação Principal: 1. Tensão de aceleração: 3-20kV, continuamente ajustável. 2. Tipo de canhão de elétrons: filamento LaB6 de cristal único pré-alinhado, tempo de vida 1500 horas, lente de canhão de dois estágios altamente integrada, sem necessidade de ajustar manualmente o diafragma da lente objetiva. 3. Ampliação ≥360000X; 4. Resolução:≤3nm@20KV 5. Detector: detector de elétrons secundários (SE), detector quádruplo de retroespalhamento (BSE), 6. Estágio: Estágio motorizado XY de 2 eixos, movendo 60x55mm; 7. Tamanho máximo da amostra: 100*78*68.5mm enquanto os eixos XY se movem livremente 8. Troca de amostra e tempo de bombeamento de alto vácuo≤ 90s. 9. Sistema de alto vácuo: bomba mecânica, bomba turbomolecular, bomba iônica, o vácuo na câmara de amostra ≥4x10-2Pa, controle totalmente automático; 10. Modo de vídeo ≥512x512 pixels, sem necessidade de varredura de janela pequena. 11. Modo de varredura rápida: tempo de imagem≤3s, 512x512 pixels. 12. Modo de varredura lenta: tempo de imagem≤40s, 2048x2048 pixels. 13. Arquivo de imagem: BMP, TIFF, JPEG, PNG. 14. Ajuste automático de um toque de brilho e contraste, foco automático, costura de imagem grande 15. Função de navegação: navegação por câmera óptica e câmera de cabine. 16. Função de medição de imagem: distância, ângulo, etc. 17. Incluindo computador e software, controle do mouse. 18. Opcional: --Filamento de tungstênio (20pcs/caixa) --EDS --Estágio Motorizado de 3 Eixos XYZ --Estágio Motorizado de 3 Eixos XYT --Estágio Motorizado de 5 Eixos XYZRT --Vácuo baixo (1-60Pa) --Estágio In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc. --Modo de desaceleração, 1-10KV, pode observar amostras não condutoras ou de baixa condutividade sem pulverização de ouro, apenas para o modo BSE --Plataforma de absorção de choque (recomendado para A63.7004) 19. Tamanho do microscópio 650*370*642mm, tamanho da bomba mecânica 340*160*140mm |
Modelo | A63.7001 | A63.7002 | A63.7003 | A63.7004 | A63.7005 |
Resolução | 10nm@15KV | 6nm@18KV | 4nm@20KV | 3nm@20KV | 2.5nm@15KV |
Ampliação | 150000x | 200000x | 360000x | 360000x | 1000000x |
Canhão de Elétrons | Tungstênio | Tungstênio | Tungstênio | LaB6 | Schotty FEG |
Tensão | 5/10/15KV | 3-18KV | 3-20KV | 3-20KV | 1-15KV |
Detector | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE | BSE+SE |
CCD de Navegação | CCD | CCD | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine | CCD+Câmera de Cabine |
Tempo de Vácuo | 90s | 90s | 30s | 90s | 180s |
Sistema de Vácuo | Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba Iônica |
Bomba Mecânica Bomba Molecular Bomba Iônica x2 |
Vácuo | Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 1x10-1Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Alto Vácuo 5x10-4Pa |
Estágio | Estágio XY, 40x30/40x40mm |
Estágio XY, 40x30/40x40mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Estágio XY, 60x55mm |
Precisão do Estágio | - | Posição Precisa 5um | |||
Distância de Trabalho | 5-35mm | 5-35mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm | 5-73.4mm |
Amostra Máxima | 80x42x40mm | 80x42x40mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm | 100x78x68.5mm |
Opcional | Filamento de Tungstênio 20 pcs/caixa | Filamento Lab6 | Lâmpada de Emissão de Campo | ||
EDS Oxford AZtecOne com XploreCompact 30 | |||||
- | Vácuo Baixo 1-100Pa | Vácuo Baixo 1-30Pa | |||
- | Módulo do Eixo Z | Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm | |||
- | Módulo do Eixo T | Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, T ±20° | |||
- | - | Estágio de 5 Eixos, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360° | |||
- | - | Plataforma de absorção de choque, para estágio de 3 eixos, 5 eixos | |||
- | Modo de desaceleração 1-10KV para observar amostras não condutoras, apenas para BSE | ||||
- | Estágio In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc. | ||||
UPS |
▶ AZtecOne com XploreCompact 30 para TTM
Análise EDS convencional do sistema O sistema fornece análise qualitativa e quantitativa de diferentes materiais, analisando elementos que variam de B(5) a cf (98). Além de varreduras pontuais individuais da superfície da amostra, varreduras de linha e varreduras espectrais elementares poderosas também estão disponíveis. Combinado com um detector personalizado, a análise e o relatório podem ser feitos em segundos. |
Área Cristalina Efetiva | 30mm2 | Resolução (De Uma Foto) | Mn Ka <129eV @50.000cps |
Faixa de Detecção Elementar | B (5) a cf (98) | Taxa Máxima de Contagem de Entrada | >1.000.000 cps |