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OPTO-EDU A63.7004 Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Microscópio Eletrônico de Varredura de Filamento de Cristal Único SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Resolution
    3nm@20KV
  • Magnification
    360000x
  • Electron Gun
    LaB6
  • Voltage
    3-20KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD+Cabin Camera
  • Place of Origin
    China
  • Marca
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Certificação
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7004
  • Documento
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Preço
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7004 Microscópio Eletrônico de Varredura de Filamento de Cristal Único SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Ampliação 360000x Resolução 3nm@20KV Com Detector SE+BSE+CCD, EDS Opcional
  • Mesa de Trabalho Motorizada X/Y Padrão, Opcional 3 Eixos X/Y/Z, 5 Eixos X/Y/Z/R/T
  • Cartucho de Filamento LaB6 de Cristal Único Tensão 20kV, Tempo de Vida >1500 Horas
  • Sistema de Alto Vácuo Com Bomba Rotativa Mecânica Para Obter Vácuo em 30s
  • Foco Automático de Uma Tecla, Ajuste Automático de Brilho e Contraste, Sem Necessidade de Mesa Absorvente de Choque
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OPTO-EDU A63.7004 Microscópio Eletrônico de Varredura de Filamento de Cristal Único SE BSE 360000x 3nm@20KV 1

A63.7004 Microscópios Eletrônicos de Varredura (MEV) de Mesa, atualize a pistola de tungstênio para LaB6, incorporam inúmeras tecnologias inovadoras, oferecendo não apenas excelente desempenho de imagem, mas também portabilidade, atendendo a uma ampla gama de necessidades de aplicação. Tanto nacional quanto internacionalmente, a série ZEM, com seu posicionamento de ponta e modelos diversos, alcançou padrões avançados em clareza de imagem, facilidade de uso e integração de sistemas.

 

A63.7004 é renomado por seu alto nível de integração e opções de configuração flexíveis. A interface do usuário é simples, fácil de aprender e operar, permitindo que até mesmo usuários não especialistas se tornem proficientes rapidamente. O software acompanhante suporta todo o fluxo de trabalho, desde a preparação da amostra, ajuste de parâmetros, até a análise de imagem, fornecendo uma solução integrada e eficiente. A63.7004 demonstrou fortes capacidades analíticas em vários campos, como novos materiais, nova energia, biomedicina e semicondutores, auxiliando pesquisadores na exploração dos mistérios do mundo microscópico. Devido à sua excelente relação custo-benefício, a série ZEM tornou-se a escolha preferida para muitas universidades, instituições de pesquisa e empresas que buscam um microscópio eletrônico de varredura de mesa.

 

O MEV de bancada A63.7004 utiliza uma gama mais ampla de tensões de aceleração, passos de 1Kv e uma ampliação máxima de 360.000x com uma resolução de até 5nm. O modo de desaceleração de mesa permite a observação em tempo real de produtos de baixa condutividade sem a necessidade de pulverização de ouro. O compartimento de amostra extra grande pode ser integrado com uma ampla gama de plataformas de expansão in-situ para atender a diferentes necessidades experimentais e de inspeção.

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Condições de Trabalho:

Requisitos ambientais: tamanho pequeno, toda a máquina pode ser colocada em uma mesa de laboratório comum, sem necessidade de ser equipada com uma mesa adicional de absorção de choque.

1.Fonte de alimentação 220V, 50Hz, 1KW

2.Temperatura: Temperatura ambiente de operação: 15°C-30°C

3.Umidade: <80%UR

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Especificação Principal:

1. Tensão de aceleração: 3-20kV, continuamente ajustável.

2. Tipo de canhão de elétrons: filamento LaB6 de cristal único pré-alinhado, tempo de vida 1500 horas,  lente de canhão de dois estágios altamente integrada, sem necessidade de ajustar manualmente o diafragma da lente objetiva.

3. Ampliação ≥360000X

4. Resolução:≤3nm@20KV

5. Detector: detector de elétrons secundários (SE), detector quádruplo de retroespalhamento (BSE),

6. Estágio: Estágio motorizado XY de 2 eixos, movendo 60x55mm

7. Tamanho máximo da amostra:  100*78*68.5mm enquanto os eixos XY se movem livremente

8. Troca de amostra e tempo de bombeamento de alto vácuo≤ 90s.

9. Sistema de alto vácuo: bomba mecânica, bomba turbomolecular, bomba iônica, o vácuo na câmara de amostra ≥4x10-2Pa, controle totalmente automático;

10. Modo de vídeo ≥512x512 pixels, sem necessidade de varredura de janela pequena.

11. Modo de varredura rápida: tempo de imagem≤3s, 512x512 pixels.

12. Modo de varredura lenta: tempo de imagem≤40s, 2048x2048 pixels.

13. Arquivo de imagem: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. Ajuste automático de um toque de brilho e contraste, foco automático, costura de imagem grande

15. Função de navegação: navegação por câmera óptica e câmera de cabine.

16. Função de medição de imagem: distância, ângulo, etc.

17. Incluindo computador e software, controle do mouse.

18. Opcional:

--Filamento de tungstênio (20pcs/caixa)

--EDS

--Estágio Motorizado de 3 Eixos XYZ

--Estágio Motorizado de 3 Eixos XYT

--Estágio Motorizado de 5 Eixos XYZRT

--Vácuo baixo (1-60Pa)

--Estágio In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc.

--Modo de desaceleração, 1-10KV, pode observar amostras não condutoras ou de baixa condutividade sem pulverização de ouro, apenas para o modo BSE

--Plataforma de absorção de choque (recomendado para A63.7004)

19. Tamanho do microscópio 650*370*642mm, tamanho da bomba mecânica 340*160*140mm

 
 
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Modelo A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Resolução 10nm@15KV 6nm@18KV 4nm@20KV 3nm@20KV 2.5nm@15KV
Ampliação 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Canhão de Elétrons Tungstênio Tungstênio Tungstênio LaB6 Schotty FEG
Tensão 5/10/15KV 3-18KV 3-20KV 3-20KV 1-15KV
Detector BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
CCD de Navegação CCD CCD CCD+Câmera de Cabine CCD+Câmera de Cabine CCD+Câmera de Cabine
Tempo de Vácuo 90s 90s 30s 90s 180s
Sistema de Vácuo Bomba Mecânica
Bomba Molecular
Bomba Mecânica
Bomba Molecular
Bomba Mecânica
Bomba Molecular
Bomba Mecânica
Bomba Molecular
Bomba Iônica
Bomba Mecânica
Bomba Molecular
Bomba Iônica x2
Vácuo Alto Vácuo
1x10-1Pa
Alto Vácuo
1x10-1Pa
Alto Vácuo
1x10-1Pa
Alto Vácuo
5x10-4Pa
Alto Vácuo
5x10-4Pa
Estágio Estágio XY,
40x30/40x40mm
Estágio XY,
40x30/40x40mm
Estágio XY,
60x55mm
Estágio XY,
60x55mm
Estágio XY,
60x55mm
Precisão do Estágio - Posição Precisa 5um
Distância de Trabalho 5-35mm 5-35mm 5-73.4mm 5-73.4mm 5-73.4mm
Amostra Máxima 80x42x40mm 80x42x40mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm
Opcional Filamento de Tungstênio 20 pcs/caixa Filamento Lab6 Lâmpada de Emissão de Campo
EDS Oxford AZtecOne com XploreCompact 30
- Vácuo Baixo  1-100Pa Vácuo Baixo 1-30Pa
- Módulo do Eixo Z Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm
- Módulo do Eixo T Estágio de 3 Eixos, X 60mm, Y 50mm, T ±20°
- - Estágio de 5 Eixos, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360°
- - Plataforma de absorção de choque, para estágio de 3 eixos, 5 eixos
- Modo de desaceleração 1-10KV para observar amostras não condutoras, apenas para BSE
- Estágio In-Situ da fábrica original, aquecimento, resfriamento, alongamento, etc. 
UPS
 
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AZtecOne com XploreCompact 30 para TTM

 

Análise EDS convencional do sistema

O sistema fornece análise qualitativa e quantitativa de diferentes materiais, analisando elementos que variam de B(5) a cf (98). Além de varreduras pontuais individuais da superfície da amostra, varreduras de linha e varreduras espectrais elementares poderosas também estão disponíveis. Combinado com um detector personalizado, a análise e o relatório podem ser feitos em segundos.

 
Área Cristalina Efetiva 30mm2 Resolução (De Uma Foto) Mn Ka <129eV @50.000cps
Faixa de Detecção Elementar B (5) a cf (98) Taxa Máxima de Contagem de Entrada >1.000.000 cps
 
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